一方面可以清楚的看出叠加了半透明器件位置的图像和未叠加位置图像的区别，另一方面还可以顺带宣传一波母校。
这也是许秋在阅读文献中获得的灵感，他之前就看到过中科院化学研究所卢长军课题组发表的文章，对方拍的照片中带着ICCAS的文字标识，是那种一张纸上斜着打印了一排排的“ICCAS”，还是黑白的，看起来比较弱鸡。
许秋这次直接上彩图LOGO，逼格更高一些。
第四张图，许秋打算给“自己”增加点工作量，深入研究体系，在不同电极厚度下器件的效率和对应的AVT数值。
厚度值决定分别选择10、12、14、16、18、20、100纳米，其中100纳米作为正常器件，也就是标样进行参比，其他的薄层电极厚度都是包含1纳米金在内的。
这里可以列一张表，用表格的形式详细列举出不同电极厚度下，PCE、AVT等数据的变化情况。
第五张图……许秋发现实在没什么可做的实验了。
只有四张图的话，也不是不可以，但文章就显得稍微有些单薄。
于是，他决定搞点花里胡哨的东西出来，这也是之前看其他人文献时得到的灵感。
正常器件测试的时候都是从玻璃/ITO这一测打光测试，半透明器件的常规测试方法也是一样，从透明玻璃一侧打光。
许秋打算另外测试一组从半透明电极那一侧打光的器件性能数据。
可以预见的是，器件效率肯定是会变低的，因为光在到达有效层前就会被半透明电极先吸收一小半。
而效率的衰减绝大多数来自于这项吸收损失，因此衰减的幅度基本上约等于一减去半透明电极的AVT。
反正测试一下也花不了太多的功夫，就能多一张图，何乐而不为呢。
下午两点多，莫文琳完成了器件制备的前几道工序，将基片传送到蒸镀手套箱中，然后进入办公室，说道：
“许秋，你的两种体系，我每组都用最优条件做了两组转速，每组转速两片，一共八片器件，就差最后的蒸镀了。”
“好，我等下来教你怎么蒸镀半透明器件。”许秋点点头，穿上实验服，进入里间实验室。
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